奧林巴斯光譜儀的誤差來(lái)源與避免

　更新時(shí)間：2016-09-26 點(diǎn)擊量：2585

　　奧林巴斯光譜儀雖然本身測量準確度很高，但測定試樣中元素含量時(shí)，所得結果與真實(shí)含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素的影響，有的材料本身含量就很低。下面就誤差的種類(lèi)、來(lái)源及如何避免誤差進(jìn)行分析。
　　根據誤差的性質(zhì)及產(chǎn)生原因，誤差可分為下面幾種：
　　1、系統誤差的來(lái)源
　　(1)標樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不*相同時(shí)，可能引起基體線(xiàn)和分析線(xiàn)的強度改變，從而引入誤差。
　　(2)標樣和試樣的物理性能不*相同時(shí)，激發(fā)的特征譜線(xiàn)會(huì )有差別從而產(chǎn)生系統誤差。
　　(3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過(guò)退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結構不相同時(shí)，測出的數據會(huì )有所差別。
　　(4)未知元素譜線(xiàn)的重疊干擾。如熔煉過(guò)程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí)，混入未知合金元素而引入系統誤差。
　　(5)要消除系統誤差，必須嚴格按照標準樣品制備規定要求。為了檢查系統誤差，就需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對結果。
　　2、偶然誤差的來(lái)源
　　與樣品成分不均勻有關(guān)的誤差。因為光電光譜分析所消耗的樣品很少，樣品中元素分布的不均勻性、組織結構的不均勻性，導致不同部位的分析結果不同而產(chǎn)生偶然誤差。主要原因如下：
　　(1)熔煉過(guò)程中帶入夾雜物，產(chǎn)生的偏析等造成樣品元素分布不均。
　　(2)試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。
　　(3)磨樣紋路交叉、試樣研磨過(guò)熱、試樣磨面放置時(shí)間太長(cháng)和壓上指紋等因素。
　　(4)要減少偶然誤差，就要精心取樣，消除試樣的不均勻性及試樣的鑄造缺陷，也可以重復多次分析來(lái)降低分析誤差。
　　3、其他因素誤差
　　(1)氬氣不純。當氬氣中含有氧和水蒸氣時(shí)，會(huì )使激發(fā)斑點(diǎn)變壞。如果氬氣管道與電極架有污染物排不出去，分析結果會(huì )變差。
　　(2)室內溫度的升高會(huì )增加光電倍增管的暗電流，降低信噪比。濕度大容易導致高壓元件發(fā)生漏電、放電現象，使分析結果不穩定。
　　如何避免誤差：
　　(1)試樣表面要平整，當試樣放在電極架上時(shí)，不能有漏氣現象。如有漏氣，激發(fā)時(shí)聲音不正常。
　　(2)樣品與控制標樣的磨紋粗細要一致，不能有交叉紋，磨樣用力不要過(guò)大，而且用力要均勻，用力過(guò)大，容易造成試樣表面氧化。
　　(3)對高鎳鉻鋼磨樣時(shí)，要使用新砂輪片磨樣，磨紋操作要求更嚴格。
　　(4)試樣不能有偏析、裂紋、氣孔等缺陷，試樣要有一定的代表性。
　　(5)電極的*應具有一定角度，使光軸不偏離中心，放電間隙應保持不變，否則聚焦在分光儀的譜線(xiàn)強度會(huì )改變。多次重復放電以后，電極會(huì )長(cháng)尖，改變了放電間隙。激發(fā)產(chǎn)生的金屬蒸氣也會(huì )污染電極。所以必須激發(fā)一次后就用刷子清理電極。
　　(6)透鏡內表面常常受到來(lái)自真空泵油蒸氣的污染，外表面受到分析時(shí)產(chǎn)生金屬蒸氣的附著(zhù)，使透過(guò)率明顯降低，對波長(cháng)小于200nm的碳、硫、磷譜線(xiàn)的透過(guò)率影響更顯著(zhù)，所以聚光鏡要進(jìn)行定期清理。
　　(7)真空度不夠高會(huì )降低分析靈敏度，特別是波長(cháng)小于200nm的元素更明顯，為此要求真空度達0.05mmHg。
　　(8)出射狹縫的位置變化受溫度的影響zui大，因此保持分光室內恒溫30℃很重要，還要求室內溫度保持一致，使出射狹縫不偏離正常。

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