X射線(xiàn)衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí)，該物質(zhì)被X射線(xiàn)照射產(chǎn)生不同程度的衍射現象，物質(zhì)組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線(xiàn)衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此，X射線(xiàn)衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學(xué)方法，已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應用。
 

　　X射線(xiàn)衍射儀(XRD)是通過(guò)對材料進(jìn)行X射線(xiàn)衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。
 

　　X射線(xiàn)衍射儀使用注意事項：
 

　　(1)固體樣品表面>10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。
 

　　(2)對于片狀、圓拄狀樣品會(huì )存在嚴重的擇優(yōu)取向，衍射強度異常，需提供測試方向。
 

　　(3)對于測量金屬樣品的微觀(guān)應力(晶格畸變)，測量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光，消除表面應變層。
 

　　(4)粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。
 

　　結構組成：
 

　　X射線(xiàn)衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似，為衍射儀的基本構造原理圖，主要部件包括4部分。
 

　　(1) 高穩定度X射線(xiàn)源　提供測量所需的X射線(xiàn), 改變X射線(xiàn)管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線(xiàn)的波長(cháng), 調節陽(yáng)極電壓可控制X射線(xiàn)源的強度。
 

　　(2) 樣品及樣品位置取向的調整機構系統　樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
 

　　(3) 射線(xiàn)檢測器　檢測衍射強度或同時(shí)檢測衍射方向, 通過(guò)儀器測量記錄系統或計算機處理系統可以得到多晶衍射圖譜數據。
 

　　(4) 衍射圖的處理分析系統　現代衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計算機系統, 它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。