手持式合金分析儀中的基體效應:在實(shí)際工作中，被測樣品的成分通常由多種元素組成，除被測元素外的元素統稱(chēng)為基體。在被測樣品中，其基體成分發(fā)生變化(這種變化一是元素的變化，二是含量的變化)，直接影響被測元素特征x射線(xiàn)強度的測量。換句話(huà)說(shuō)，被測元素含量相同，由于其基體成分不同，被測元素特征x射線(xiàn)強度不同，這就是基體效應?；w效應是x射線(xiàn)熒光定量分析的主要誤差來(lái)源之一。
 

　　基體效應是不可避免的客觀(guān)事實(shí)，其物理本質(zhì)是刺激(吸收)和散射引起特征x射線(xiàn)強度的變化，除了待測元素外，基體成分中接近待測元素的元素對刺激源的放射線(xiàn)和待測元素的特征x射線(xiàn)產(chǎn)生光電效應的概率遠遠高于輕元素(地質(zhì)樣品中常見(jiàn)的主要造巖元素)，即這些相鄰元素對刺激源發(fā)射的x射線(xiàn)和待測元素的特征x射線(xiàn)的吸收系數遠遠高于輕元素。
 

　　為了便于描述，假設樣品中有待測量元素A、相鄰元素B、C和輕元素。B元素的原子序數大于A(yíng)元素的原子序數，B元素可以被放射源釋放的輻射激發(fā)產(chǎn)生B元素的特征。X射線(xiàn)BK，BKX輻射可以激發(fā)A元素;C元素的原子序數小于待測元素A的原子序數，可以被A元素特征X輻射激發(fā)產(chǎn)生C元素特征X輻射;輕元素的原子序數遠離A、B、C元素的原子序數，激發(fā)的概率很小，可以忽略不計，所以對待測元素A特征X輻射強度的影響如下:
 

　　1、放射源釋放的輻射刺激待測元素A，產(chǎn)生特征X輻射AK線(xiàn)稱(chēng)為光電效應。
 

　　2、AKX線(xiàn)在樣品出射時(shí)遇到C元素激發(fā)C元素特征X射線(xiàn)CK，而A元素特征X射線(xiàn)強度降低，稱(chēng)為吸收效應。
 

　　3、放射源刺激B元素，BKX線(xiàn)刺激A元素，增加A元素特征X射線(xiàn)計數，稱(chēng)為增強效應，也稱(chēng)為二次熒光。
 

　　4、放射源刺激元素C和元素B，降低刺激元素A的概率。
 

　　5、放射源放射線(xiàn)與輕元素相互作用產(chǎn)生康普頓效應，可發(fā)生一次康普頓效應，也可發(fā)生多次康普頓效應，發(fā)生康普頓效應后，部分射線(xiàn)能量損失可激發(fā)元素A、B、C，也可不起作用，稱(chēng)為康普頓效應。
 

　　上面只描述了一個(gè)簡(jiǎn)單的圖像，事實(shí)上，X射線(xiàn)的吸收，增強，散射過(guò)程要復雜得多。如果待測元素與標準基體成分不一致，必然會(huì )使分析結果產(chǎn)生較大的誤差。它是吸收效應，增強效應，散射效應的影響，統稱(chēng)為基體效應。