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你知道奧林巴斯熒光光譜儀都有哪些優(yōu)點(diǎn)嗎?

 更新時(shí)間:2022-01-12 點(diǎn)擊量:1648
  奧林巴斯熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線(xiàn)熒光是用高能量X射線(xiàn)或伽瑪射線(xiàn)轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級X射線(xiàn)。這種現象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學(xué),法醫學(xué),考古學(xué)和藝術(shù)品,例如油畫(huà)和壁畫(huà)。由激發(fā)源(X射線(xiàn)管)和探測系統構成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)(一次X射線(xiàn)),激發(fā)被測樣品,產(chǎn)生X熒光(二次X射線(xiàn)),探測器對X熒光進(jìn)行檢測。
 
  奧林巴斯熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn):
 
  1、分析速度高。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān),但一般都很短,幾分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
 
  2、X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長(cháng)變化等現象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內,這種效應更為顯著(zhù)。波長(cháng)變化用于化學(xué)位的測定。
 
  3、非破壞分析。在測定中不會(huì )引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì )出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。
 
  4、X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
 
  5、分析精密度高。
 
  6、制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
 
  近年來(lái),熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展,已成為一種廣泛應用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛生等各個(gè)領(lǐng)域,特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應用得最多也*泛。

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