對奧林巴斯光譜儀射線(xiàn)強度有影響的因素是什么呢?奧林巴斯光譜儀的定量分析是以熒光x光線(xiàn)的強度為根據的，影響光譜儀射線(xiàn)強度的因素會(huì )影響分析的精確度，以下是主要兩大影響因素：
 

　　一、基體效應:
 

　　基體效應包含吸收效應及加強效應。
 

　　吸收效應包含基材對入射x光線(xiàn)的吸收及對熒光x光線(xiàn)的吸收。由于用射線(xiàn)激發(fā)試品時(shí)，不只是作用于試品表層并且能穿透相應的厚度進(jìn)入試品里面，并且試品里面分析元素形成的熒光x光線(xiàn)，也必須穿過(guò)相應厚度的試品才可以射出。在穿透過(guò)程中，這二種x光線(xiàn)都會(huì )因基材元素的吸收而使射線(xiàn)強度減弱，射線(xiàn)減弱會(huì )影響對分析元素的激發(fā)效率。
 

　　假如入射x光線(xiàn)使基材元素激發(fā)所形成的熒光x光線(xiàn)的波長(cháng)略短于分析元素的吸收邊，它會(huì )使分析元素形成二次熒光x光線(xiàn)，進(jìn)而使分析元素的熒光x光線(xiàn)強度加強，這就是基材的加強效應。
 

　　假如吸收效應占主導作用，則分析結果稍低，假如加強效應占主導作用，則分析結果較高。
 

　　二、不均勻效應:
 

　　不均勻效應就是指試品顆粒大小不均勻及試品表層光潔度對熒光x光線(xiàn)強度的影響。對粉末試品，大顆粒吸收效應強，小顆粒吸收效應弱，因而，要求顆粒粒度盡可能小一些，以減少對x光線(xiàn)的吸收。測短波x光線(xiàn)時(shí)，要求粒度在250目以上，測量波長(cháng)超過(guò)0.2nm的長(cháng)波x射線(xiàn)時(shí)，則粒度要求在400目以上。
 

　　固體塊狀試樣一定要磨平拋光，粉末試樣要壓緊并使表層平滑。粗糙表層會(huì )使熒光x光線(xiàn)的強度明顯下降。測量短波x光線(xiàn)時(shí)，光潔度在1005m左右，測量長(cháng)波x光線(xiàn)時(shí)，光潔度為20-50Mm。