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帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀

更新時(shí)間：2025-04-28
產(chǎn)品型號：
廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
描述：,帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀 三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,HyperQVWLI 606帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,可根據WLI光學(xué)系統獲取的3D數據進(jìn)行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數據進(jìn)行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。
詳情介紹

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產(chǎn)品特點(diǎn)與優(yōu)勢
HYPER QV WLI配備白光干涉儀的復合型高精度3D測量系統。



可根據WLI光學(xué)系統獲取的3D數據進(jìn)行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數據進(jìn)行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。

產(chǎn)品陣容
型號
                                        測量范圍：
                   X軸最大（mm）     Y軸最大（mm）         Z軸最大（mm）
Hyper QVWLI 302     300                200                190
Hyper QVWLI 404     400                400                240
Hyper QVWLI 606     600                650                220



   



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